逐次逼近 文章 進入逐次逼近技術(shù)社區(qū)
基于40 nm CMOS工藝的高速SAR ADC的設(shè)計
- 基于40 nm CMOS工藝，設(shè)計了一種高速逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器。本設(shè)計采用了非二進制冗余DAC技術(shù)來緩解ADC對建立時間和建立精度的要求，來提高ADC量化的準(zhǔn)確性;采用帶有預(yù)放大級的高速比較器來提高比較器的精度，同時減小后級Latch的回踢噪聲，采用了兩級Latch來進一步提高比較器的速度;采用基于鎖存器的鎖存單元來提高SAR邏輯控制電路的速度，并且采用了異步時序控制，不需要外部時鐘，有利于提高SAR ADC的速度，并降低了設(shè)計的復(fù)雜度。設(shè)計的SAR ADC在160 MHz的采樣頻率下，在不同輸入信號頻
- 關(guān)鍵字： 高速通信 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 逐次逼近 非二進制 201803
10位逐次逼近型A/D轉(zhuǎn)換器的芯片設(shè)計
- 1 引言A/D轉(zhuǎn)換器是模擬系統(tǒng)與數(shù)字系統(tǒng)接口的關(guān)鍵部件，可以將需要測量的模擬信號精確地轉(zhuǎn)換成數(shù)字量信號。一旦以數(shù)字形式出現(xiàn)，就能簡單而準(zhǔn)確地對其進行處理，從而提取出有用的信息?，F(xiàn)代電子系統(tǒng)中，模數(shù)轉(zhuǎn)換器（A
- 關(guān)鍵字： 逐次逼近 芯片設(shè)計 轉(zhuǎn)換器
一種中速高精度模擬電壓比較器的設(shè)計
- 關(guān)鍵字： 比較器 鎖存囂 失調(diào)校準(zhǔn) 弱正反饋 逐次逼近
| 共7條 1/1 1 |
逐次逼近介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條逐次逼近!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對逐次逼近的理解，并與今后在此搜索逐次逼近的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對逐次逼近的理解，并與今后在此搜索逐次逼近的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
逐次逼近資料下載
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473